杭州華盼科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 簡要描述：SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析，適用于薄膜材料的快速...
產(chǎn)品型號：SE-VM所在地：更新時(shí)間：2022-12-28 在線留言
詳細(xì)摘要： 簡要描述：SE-L 是一款全自動(dòng)高精度光譜橢偏儀，集眾多科技技術(shù)，采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù)，配置全自動(dòng)測量模塊。
產(chǎn)品型號：SE-L所在地：更新時(shí)間：2022-12-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 簡要描述：SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀。
產(chǎn)品型號：SE-Mapping所在地：更新時(shí)間：2022-12-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 簡要描述：SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計(jì)，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。
產(chǎn)品型號：SE-VE所在地：更新時(shí)間：2022-12-23 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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